射頻放大器測試系統(tǒng)中的電源噪聲

噪聲是包括電源在內(nèi)的測試系統(tǒng)中多余卻無法避免的問題。一部分的噪聲總是由電源（除了電池是低噪聲的電源）產(chǎn)生或傳播的。然而外部噪聲對電源的輸出品質(zhì)有著較大的影響。所以，電源噪聲需要足夠低，以免干擾相鄰設(shè)備或測試結(jié)果。

這期介紹如何減輕測試系統(tǒng)中的電源噪聲。在之前的兩期介紹了一下DC/DC轉(zhuǎn)換器測試系統(tǒng)與測量系統(tǒng)中的電源噪聲。這期介紹一下射頻放大器測試系統(tǒng)中的電源噪聲。

射頻放大器測試系統(tǒng)中的電源噪聲

下圖1顯示為噪聲控制測試系統(tǒng)，DUT為射頻放大器。來自射頻信號發(fā)生器的射頻信號由射頻放大器進(jìn)行放大。射頻放大器的輸出由頻分析儀進(jìn)行測量。射頻放大器為小信號調(diào)諧放大器，可放大射頻下的小信號。射頻放大器的機箱位于GND電位。因此，由共膜噪聲引起的外部磁通應(yīng)該遠(yuǎn)離射頻放大器測量。磁通量可在電源的輸出周圍產(chǎn)生，也可從機箱或電源線產(chǎn)生。

接下來就看看外部磁通量是如何影響射頻放大器測量以及如何處理噪聲的。

為何外部磁通量會影響到射頻信號

下圖2顯示了射頻信號發(fā)生器輸出連接器通過同軸電纜連接至射頻放大器輸入端口。在該系統(tǒng)中，接地回路顯示明顯，所以如果由共膜噪聲引起的外部磁通通過該回路，那么噪聲電流（Iw）將會流經(jīng)同軸電纜的外導(dǎo)體。因此產(chǎn)生了噪聲電壓（Vw）。Vw是通過射頻放大器的輸入端口被添加至射頻信號發(fā)生器（RF SG）。射頻同軸電纜在其中心導(dǎo)體處的總阻抗為100Ω。當(dāng)外部磁通通過這個回路時，電流不會流經(jīng)具有高阻抗的中心導(dǎo)體，所以噪聲電流（Iw）只流經(jīng)同軸電纜的外導(dǎo)體。這些不平衡的電流導(dǎo)致噪聲電壓加至了射頻信號。

如何減少共膜噪聲

上述的噪聲問題是由接地回路所引起的。為了解決這個問題，可如下圖3所示，通過放置一個隔離變壓器來斷開接地回路。

另一種解決方案就是將同軸電纜纏繞在環(huán)形鐵芯上，從而阻止電流流過同軸電纜的外導(dǎo)體。

本文來源于KIKUSUI菊水

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